II Edición «Difracción de polvos de Rayos X y el método de Rietveld»

Programa
-Materia cristalina y difracción de polvo: usos generales.
-Esquema básico de un difractómetro de polvo.
-Preparación de muestra.
-Toma de datos.
-Identificación de fases y análisis cualitativo.
-El método de Rietveld y análisis de fases cuantitativo.
-Bases de datos.
-Usos avanzados: Cuantificación material no difractante/amorfo, estudio microestructural, etc.
-Ejemplos prácticos: muestras del sector.

Se incluye además de las charlas teóricas y sesiones prácticas (DIFFRAC.EVA y TOPAS), documentación científica y técnica actualizada sobre el objeto del curso.

Las personas interesadas en asistir al curso deben de remitir el formulario de inscripción antes del 20 de marzo del 2017 por correo electrónico a: info@xdataser.com

Inscripción: 550+ IVA Posterior a la inscripción se enviará información para hacer efectiva la cuota de inscripción.

Requerimientos
Para la realización de las sesiones prácticas, los asistentes vendrán provistos de un ordenador con sistema operativo Windows 7 o 10. También deberán tener instalado la hoja de cálculo EXCEL para la realización de cálculos matemáticos. El usuario deberá poseer “privilegios de Administrador“en ese ordenador